LED缺陷AI視覺檢測(cè)系統(tǒng)由海克易邦自主研發(fā)，適用于貼片LED底部缺陷，正面反料、側(cè)料、倒料、缺料、邊緣毛刺檢測(cè)及包裝復(fù)檢，檢測(cè)速度高達(dá)45K/小時(shí)。過檢率小于萬(wàn)分之三，無(wú)漏檢。檢測(cè)規(guī)格包含LED-1010、LED-2121、LED-2835等規(guī)格的貼片LED。本產(chǎn)品使用深度學(xué)習(xí)算法，產(chǎn)品具有高效性，準(zhǔn)確性，可擴(kuò)展性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)，突破了傳統(tǒng)算法限制。
檢測(cè)界面
檢測(cè)項(xiàng)目
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